华拓科技网
您的当前位置:首页用于确定光学部件的色散的设备与方法[发明专利]

用于确定光学部件的色散的设备与方法[发明专利]

来源:华拓科技网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:用于确定光学部件的色散的设备与方法专利类型:发明专利发明人:埃格博特·克劳泽申请号:CN2004100057.3申请日:20040220公开号:CN1558211A公开日:20041229

摘要:本发明的目的在于使以改进的方式确定样本(4)的色散成为可能。为此目的,在干涉仪(10)中利用辐射源(1)的光对样本(4)进行射线照射。随后的偏振光计(50)测量干涉辐射的功率变化及偏振变化。在随后的评价单元(7)中,可以确定与波长相关的色散。

申请人:特拉波斯公司

地址:美国新泽西

国籍:US

代理机构:永新专利商标代理有限公司

代理人:王英

更多信息请下载全文后查看

因篇幅问题不能全部显示,请点此查看更多更全内容